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                              STJ X-ray谱仪 超导隧道结X射线谱仪

               STJ X-ray  是专用于软X射线束探测的无液氦超导隧道结X射线谱仪,具有高能量分辨和

        高计数率等优点。

               超导隧道结(STJX-射线谱仪由美国 STAR Cryoelectronics 公司专门为同步辐射研究

        领域开发的一款高性能低温探测系统。优化设计的 STJ 探测器既适合作为紫外-X射线波段

        范围(50eV-3keV)荧光产率吸收谱(PFY-XAS)用探测器,也适合作为同步辐射装置的高

       光子通量探测器。在525eV处的能量分辨率(峰半高宽) 优于10eV,每像素每秒计数超过1

       次。STJ探测器比传统固态探测器(例如HPGe)和硅漂移探测器的分辨率高10倍,并保持高

       量子效率和高计数率的特点,与其它低温探测器相比,STJ探测器使用更简单也更稳定,非常

       适合作为高光子通量同步加速器装置的X射线探测器来使用。



                                                                            

                                                   性能参数


               与传统固态探测器相比,STJ探测器能量分辨率优于10eV,  能够分辨出大多数传统固体探

         测器无法辨识的近邻峰。利用STJ探测器可清晰地分辨出MnFe L峰位于Fk峰(677eV

         的两侧,能够将不同元素的荧光产率吸收谱从弱背景中提取出来。 STJ 探测器也可将 VCr

         Ti  L峰从OK峰位分辨出来,WTaM峰从SiK峰位中分辨出来。

               在每像素每秒计数率在 2,000 次以内时,STJ 保持高能量分辨率地特点,即使计数率超过

         10,000次,STJ的能量分辨率仍保持在20eV左右。










                 集成STJ探测器的DRC-100 ADR恒温器全部操作由计算机程控。与其它类型低温探测器

         不同,STJ探测器的工作温度只需要低于250mK阀值温度即可。带微型snoutADR恒温器在

         200mK作温度下可保持 60小时,再生循环过程仅需 1.5小时。三层红外滤光片能够消除

         室温辐射芯片,且 1keV以上X射线透射率超过90%。也可根据需求提供允许低能射线通过滤

         光片,不过 ADR 温器的低温保持时间将会缩短。




                                                                            

                                                      配   置


                 根据实验的不同,提供标准型和微型两种STJ X-ray探测器系统。标准型STJ X-ray 

         器系带一个42cm 长 72mm粗的冷指,冷指末端端面上安装一个112像素芯片,冷指

         可伸入分析室使得探测器距离样品仅1cm,每个像素的有效探测面积为 0.2mm * 0.2mm

         总有效探测元面积4.48mm2













                 微型STJ X-ray系统是针对空间受限的实验设计,提供32mm粗的snout32个探测器

           阵列一个标准2.75”刀口法兰。

                 这两种STJ X-ray恒温器系统带标准 6”或者 2.75”刀口法兰,与用户实验腔公用同一

          真空,故无需提供X射线真空密封窗口。探测器安装在行程为 32cm的线性滑轨上,允许探

          测器从样品腔撤出并通过插板阀隔离。 法兰中心到下面线性滑轨底部距离有 33cm 的标准

          高度和 22.6cm 较矮型两种。